万分之一内校分析天平GC-C系列  

仪器特点：

1.内置ARM32位微处理芯片，运行速度快、测量准确度高；
2.采用数字滤波和数据处理技术，智能改善仪器响应速度和测量数据准确度。
3.采用电磁传感器技术，传感器配件使用高精度数控加工中心加工，保证了传感器的精度及稳定性；
4.仪器采用密封式防风罩，外形美观，使用方便；
5.仪器含有计数、百分比、双精度，单位转换等多种功能，满足不同客户的需求，操作简单，准确度高等优点；
6.仪器电路板采用SMT贴片工艺，提高了产品的可靠性；
7.带白色背光的BTN 黑膜LCD液晶屏，显示清晰。

万分之一内校分析天平GC-C系列  仪器参数：
仪器型号：GC104C
称量范围(g)：0-100
可读性（mg）：0.1

 
仪器型号：GC124C
称量范围(g)：0-120
可读性（mg）：0.1

 
仪器型号：GC204C
称量范围(g)：0-200
可读性（mg）：0.1

 
仪器型号：GC224C
称量范围(g)：0-220
可读性（mg）：0.1